В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров • Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям «Радиотехника», «Инфокоммуникационные технологии и системы связи», «Конструирование и технология электронных средств», «Электроника и наноэлектроника», «Электроэнергетика и электротехника» (уровень магистратура), аспирантам направлений «Электроника, радиотехника и системы связи», «Электро- и теплотехника»
My-shop.ru
г. Москва
1 662 руб.
Учебное пособие посвящено вопросам анализа, планирования, проведения тестовых испытаний и оценки качества программного обеспечения на всех стадиях его жизненного цикла • Является методическим обеспечением выполнения лабораторных работ для студентов, обучающихся по направлениям «Информационные системы и технологии» и «Программная инженерия»
My-shop.ru
г. Москва
457 руб.
Учебное пособие посвящено вопросам анализа, планирования, проведения тестовых испытаний и оценки качества программного обеспечения на всех стадиях его жизненного цикла. Является методическим обеспечением выполнения лабораторных работ для студентов средних профессиональных учреждений, обучающихся по специальностям направления подготовки "Информационная безопасность" и "Информатика и вычислительная техника"
My-shop.ru
г. Москва
457 руб.